ARAŞTIRMA
Bilimsel Yayınlar
Mustafa Eryılmaz'ın yazarı ya da yazarlarından biri olduğu yayınlar
| Tür | Uluslararası yayın | Ulusal yayın | Toplam |
| Konferans bildirisi | 1 | 1 | |
| Toplam: | 1 | 0 | 1 |
| # | Başlık | Yayın | Yazar(lar) | Tür | SCI, SSCI, AHCI veya EI? | Yıl |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Defect Classification from Electronic Card Images by Deep Learning | 2020 28th Signal Processing and Communications Applications Conference (SIU) | M. Eryılmaz, Metehan Çil, Sedat Aktürk, Mehmet Tileği, Hakan Tırak, A. Yılmaz, S. E. Yüksel, D. Gökcen | Konferans bildirisi | - | Mayıs 2022 |